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鎢酸鈉和次磷酸鈉濃度對脈沖電鍍CeO2-SiO2/Ni-W-P納米復(fù)合薄膜組織及性能的影響

放大字體??縮小字體 發(fā)布日期:2012-05-09??瀏覽次數(shù):420 ??關(guān)注:加關(guān)注
核心提示:鎢酸鈉和次磷酸鈉濃度對脈沖電鍍CeO2-SiO2/Ni-W-P納米復(fù)合薄膜組織及性能的影響

摘 要:通過Ni、W、P與CeO2和SiO2納米顆粒的脈沖共沉積,在碳鋼表面制備了CeO2-SiO2/Ni-W-P納米復(fù)合薄膜,主要研究了電解液中鎢酸鈉和次磷酸鈉濃度對納米復(fù)合薄膜組織及性能的影響,采用化學(xué)組成、沉積速率、顯微硬度和表面形貌進(jìn)行表征。結(jié)果表明,當(dāng)鎢酸鈉和次磷酸鈉濃度分別為100和4g/L時(shí),納米復(fù)合薄膜的沉積速率和顯微硬度較高,分別為25.03/μm/h和HV649。增加鎢酸鈉濃度,納米復(fù)合薄膜晶粒得到細(xì)化。當(dāng)鎢酸鈉濃度提高到160g/L時(shí),基質(zhì)金屬晶粒輪廓清晰,細(xì)小而均勻,呈規(guī)則的圓球型,CeO2、SiO2納米顆粒均勻彌散分布在Ni-W-P基質(zhì)金屬中。次磷酸鈉濃度的增加對納米復(fù)合薄膜的表面形貌影響較小,但會(huì)明顯降低顯微硬度。[著者文摘]

鎢酸鈉和次磷酸鈉濃度對脈沖電鍍CeO2-SiO2/Ni-W-P納米復(fù)合薄膜組織及性能的影響.pdf
 

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