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標準編號：SJ 20147.1-1992
標準簡介
本標準規(guī)定了用x射線熒光光譜法測量銀和銀合金鍍覆層厚度的方法。它是’一種非接觸式的無損測量方法。本標準適用于銀和銀合金鍍覆層厚度的測量，也適用于常用金屬鍍覆層厚度的測量。該方法還可同時測量出表面鍍覆層和中間層的厚度。
英文名稱： Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry
中標分類： 醫(yī)藥、衛(wèi)生、勞動保護>>醫(yī)藥、衛(wèi)生、勞動保護綜合>>C01技術管理
發(fā)布部門： 中國電子工業(yè)總公司
發(fā)布日期： 1992-11-19
實施日期： 1993-05-01
提出單位： 中國電子工業(yè)總公司科技質(zhì)量局
歸口單位： 中國電子技術標準化研究所
起草單位： 中國華晶電子集團公司等單位
起草人： 全慶霄、趙長春、順興生等
頁數(shù)： 9頁
出版社： 電子工業(yè)出版社
出版日期： 1993-04-01
