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【簡介】
用基體x射線衍射法測量了化學(xué)鍍Ni-P合金的鍍層厚度，并進行了誤差分析。結(jié)果表明．基體x射線衍射法是一種精確度較高的鍍層厚度無損測量法，在其適用的范圍之內(nèi)，能客觀準(zhǔn)確地測量出鍍層厚度，誤差小于金相法測量誤差；基體x射線衍射法的測量結(jié)果。幾乎不受基體表面鍍層結(jié)晶狀態(tài)的影響。可以用來測量晶態(tài)或非晶態(tài)鍍層厚度。
【簡介】
用基體x射線衍射法測量了化學(xué)鍍Ni-P合金的鍍層厚度，并進行了誤差分析。結(jié)果表明．基體x射線衍射法是一種精確度較高的鍍層厚度無損測量法，在其適用的范圍之內(nèi)，能客觀準(zhǔn)確地測量出鍍層厚度，誤差小于金相法測量誤差；基體x射線衍射法的測量結(jié)果。幾乎不受基體表面鍍層結(jié)晶狀態(tài)的影響。可以用來測量晶態(tài)或非晶態(tài)鍍層厚度。
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