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晶片級無電鍍銅法和凸塊制備方法,以及用于半導(dǎo)體晶片和微芯片的渡液.pdf

放大字體??縮小字體 發(fā)布日期:2008-01-03??瀏覽次數(shù):479 ??關(guān)注:加關(guān)注
核心提示:晶片級無電鍍銅法和凸塊制備方法,以及用于半導(dǎo)體晶片和微芯片的渡液.pdf

【專利號(申請?zhí)?】03816299.7

【公開(公告)號】CN1679154

【申請人(專利權(quán))】新加坡國立大學(xué);新加坡科技研究局

【申請日期】2003-5-14 0:00:00

【公開(公告)日】2005-10-5 0:00:00

本發(fā)明涉及一種在包括多個半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體晶片上生成銅凸塊的方法。所述芯片或晶片具有包括多個半導(dǎo)體器件的層和具有開口的鈍化層。在所述開口內(nèi)的傳導(dǎo)襯墊與所述半導(dǎo)體器件相接觸。在所述方法中,將一種傳導(dǎo)性粘著材料沉積到所述傳導(dǎo)襯墊上來形成粘著層。將一種傳導(dǎo)性金屬沉積到所述粘著層上來形成阻擋層,并使用酸浸溶液從所述鈍化層上除去可能粘著的傳導(dǎo)性粘著材料顆粒。然后,將銅沉積到所述阻擋層上來形成所述銅凸塊。所述沉積步驟的每一步均以無電鍍方式進行。而且,本發(fā)明還提供了用于上述處理的鍍液和由此制得的晶片和微芯片。

晶片級無電鍍銅法和凸塊制備方法,以及用于半導(dǎo)體晶片和微芯片的渡液.pdf
 

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