FISCHER膜厚儀XDL-B

菲希爾XUL（M）膜厚儀測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
＊可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸

或破壞被測物。 使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護費用。而且，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和

ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測

限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：單一鍍

層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領(lǐng)域.讓客戶滿意是我們錦霖

始終的目標(biāo).聯(lián)系人：鄧生：13826519947      地址：寶安區(qū)沙井新橋洋下大道8號凱悅大廈1704