表面直接觀測(cè)都有那些技術(shù)？

現(xiàn)在對(duì)表面進(jìn)行觀測(cè)所用到的技術(shù)涉及微電子技術(shù)、顯微技術(shù)、電腦及解析軟件、微傳感技術(shù)等。所用到的設(shè)備有各種掃描型顯微鏡，比較典型的有以下幾種。

探針式掃描顯微鏡(Scanning Probe Microscope)，簡(jiǎn)稱SPM。隧道式掃描顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)，簡(jiǎn)稱STM.

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope)，簡(jiǎn)稱AFM。

場(chǎng)式掃描型光學(xué)顯微鏡(Scanning Near-field Optical Micr0-scope)，簡(jiǎn)稱SNOM。

    激光掃描顯微鏡(Scanning Laser Microscope)，簡(jiǎn)稱SLM。

    電化學(xué)掃描顯微鏡(Scanning Electro Chemistry Microscope)，簡(jiǎn)稱SECM等。

    這些顯微技術(shù)在現(xiàn)代傳感器技術(shù)的支持下，可以對(duì)表面進(jìn)行微觀靜態(tài)或動(dòng)態(tài)的觀測(cè)，從而更加直觀地獲取表面過(guò)程的信息。